涡流测厚仪技术的原理和发展趋势

涡流检测主要依据“电磁感应”和“提离效应”这两个基本原理，其中我们果欧的涡流涂层测厚仪的原理就是基于“电磁感应”。每个基本原理都必须在涂层和基层的电磁性达到一定条件下使用。检测其检测原理为导体在变化的磁场中会感生出涡流，涡流特征变化受导体性能的影响。

因此，根据涡流的特征变化可以检测出导体的相关性能。例如，当AC励磁线圈靠近样件时，线圈产生的交变磁场会在样件内部产生涡流，当被测样件的参数(厚度等)发生变化时，慈应涡流也发生变化，即感应磁场发生变化.进而影响激励线圈周围的磁场，最终导致检测点的磁场发生变化。研究检测点的磁场变化规律，也就能确定被测试件的参数。

因此，可以知道涡流测厚法对涂层和基层的材料有局限性。当利用“提离效应”，原理时，需要限定涂层材料为非磁性金属、导电体或绝缘体，荃层材料为非磁性金属，井且当涂层为导电体时，涂层与基层材料之间的导电率要有显著的差别。当利用“电磁感应”时，需要限定涂层材料为非磁性导体.基层材料为磁性金属。

在涂在涡流检测技术发展过程中，研发出了许多新的检测技术，包括远场涡流，多频涡流，脉冲涡流，阵列涡流等检测技术，其中一些己广泛应用于社会工业生产领域。

其中.脉冲涡流检测技术在涂层测厚方而得到了广发应用。脉冲涡流检测(PECT)方法因激励信号含有丰富的频谱分量，在单次检测中既可获得材料不同深度的信息，相对于传统的单频侧量方法表现出了巨大的优势。

国内有很多研究人员基于涡流检测技术对涂层厚度检测做了大量研究。科研人员对多层结构的磁场分布做了建模及仿真，建立了多层结构的涡流检测模型.描述了涡流场的分布，从频域讨论了垂直方向的磁场强度分布，然而，该研究并无法给出如何通过侧量信号量化每一层结构的厚度。科研人员也采用脉冲涡流法检测了多层结构的分层缺陷。 科研人员分析了多层结构的电磁关系.并对第二层材料的厚度进行了侧量。

目前，对脉冲涡流在多层检测方面的研究主要集中在:

一、引入数据处理算法，如傅里叶变换，主成分分析以及HHT变换等来增加数据维度，进而获得新的特征量:

二、采用分类算法处理数据.对检测对象分类，针对不同类型对象采用相应的参效和方法进行表征。

这些研究存在如下的不足:

第一：

检测对象没有涉及不同的材料，即使材料不同也很少对不同材料的参数特性开展对比研究，仅仅是通过单次实验数据不足以论证方法的通用性，无法构建完整的侧量体系。

第二：

在研究厚度侧量时，均采用先确定其它层的厚度而只讨论其中某一层的厚度变化影响，这样不能严格说是多层检测。

第三：

对多层的研究大部分停留在定性阶段，距离定量还有一定的距离。

近年来虽出现了多层结构的物理模型，赋予了响应信号明确的物理含义，极大的促进了多层结构检测的发展.但该方法仍处干起步阶段，特别是对于多层异质材料结构的检测，理论还很不完善。